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74F632DCQR

更新时间: 2024-09-10 14:47:03
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
12页 374K
描述
F/FAST SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, CDIP52, SIDE BRAZED, CERAMIC, DIP-52

74F632DCQR 技术参数

生命周期:Obsolete包装说明:DIP,
Reach Compliance Code:unknownHTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.77其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS
系列:F/FASTJESD-30 代码:R-CDIP-T52
负载电容(CL):50 pF逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT
位数:32功能数量:1
端子数量:52最高工作温度:70 °C
最低工作温度:输出特性:3-STATE
封装主体材料:CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED封装代码:DIP
封装形状:RECTANGULAR封装形式:IN-LINE
最大电源电流(ICC):340 mA传播延迟(tpd):28 ns
认证状态:Not Qualified座面最大高度:5.08 mm
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:NO
技术:TTL温度等级:COMMERCIAL
端子形式:THROUGH-HOLE端子节距:2.54 mm
端子位置:DUAL宽度:15.24 mm
Base Number Matches:1

74F632DCQR 数据手册

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Error Detection And Correction Circuit, F/FAST Series, 32-Bit, TTL, CQCC52, CERAMIC, LCC-5
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IC,ERROR DETECTION & CORRECTION (EDAC),F-TTL,DIP,52PIN,PLASTIC
74F632PCQR TI

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F/FAST SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT
74F632QC NSC

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74F632QCQR FAIRCHILD

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Error Detection And Correction Circuit, F/FAST Series, 32-Bit, TTL, PQCC52, PLASTIC, LCC-5
74F632QCQR TI

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F/FAST SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PQCC52, PLASTIC, LCC-52
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