是否无铅: | 不含铅 | 是否Rohs认证: | 符合 |
生命周期: | Transferred | 零件包装代码: | SON |
包装说明: | VSON, SOLCC6,.04,14 | 针数: | 6 |
Reach Compliance Code: | compliant | HTS代码: | 8542.39.00.01 |
风险等级: | 5.39 | Is Samacsys: | N |
系列: | AUP/ULP/V | JESD-30 代码: | S-PDSO-N6 |
JESD-609代码: | e3 | 长度: | 1 mm |
负载电容(CL): | 30 pF | 逻辑集成电路类型: | NAND GATE |
最大I(ol): | 0.0017 A | 湿度敏感等级: | 1 |
功能数量: | 1 | 输入次数: | 2 |
端子数量: | 6 | 最高工作温度: | 125 °C |
最低工作温度: | -40 °C | 封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY |
封装代码: | VSON | 封装等效代码: | SOLCC6,.04,14 |
封装形状: | SQUARE | 封装形式: | SMALL OUTLINE, VERY THIN PROFILE |
包装方法: | TAPE AND REEL | 峰值回流温度(摄氏度): | 260 |
电源: | 1.2/3.3 V | Prop。Delay @ Nom-Sup: | 24.9 ns |
传播延迟(tpd): | 24.9 ns | 认证状态: | Not Qualified |
施密特触发器: | NO | 座面最大高度: | 0.5 mm |
子类别: | Gates | 最大供电电压 (Vsup): | 3.6 V |
最小供电电压 (Vsup): | 0.8 V | 标称供电电压 (Vsup): | 1.1 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
温度等级: | AUTOMOTIVE | 端子面层: | Tin (Sn) |
端子形式: | NO LEAD | 端子节距: | 0.35 mm |
端子位置: | DUAL | 处于峰值回流温度下的最长时间: | 30 |
宽度: | 1 mm | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 替代类型 | 描述 | 数据表 |
74AUP1G00GM | NXP |
功能相似 |
Low-power 2-input NAND gate |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
74AUP1G00GF,132 | NXP |
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74AUP1G00 - Low-power 2-input NAND gate SON 6-Pin | |
74AUP1G00GM | NXP |
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Low-power 2-input NAND gate | |
74AUP1G00GM | NEXPERIA |
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Low-power 2-input NAND gateProduction | |
74AUP1G00GN | NXP |
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AUP/ULP/V SERIES, 2-INPUT NAND GATE, PDSO6, 0.90 X 1 MM, 0.35 MM HEIGHT, SOT-1115, SON-6 | |
74AUP1G00GN | NEXPERIA |
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Low-power 2-input NAND gateProduction | |
74AUP1G00GS | NEXPERIA |
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Low-power 2-input NAND gateProduction | |
74AUP1G00GW | NXP |
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Low-power 2-input NAND gate | |
74AUP1G00GW | NEXPERIA |
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Low-power 2-input NAND gateProduction | |
74AUP1G00GW-Q100 | NEXPERIA |
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Low-power 2-input NAND gateProduction | |
74AUP1G00GX | NEXPERIA |
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Low-power 2-input NAND gateProduction |