生命周期: | Obsolete | 零件包装代码: | SSOP |
包装说明: | SSOP, | 针数: | 56 |
Reach Compliance Code: | unknown | 风险等级: | 5.2 |
Is Samacsys: | N | 其他特性: | WITH INDEPENDENT OUTPUT ENABLE FOR EACH DIRECTION |
系列: | ABT | JESD-30 代码: | R-PDSO-G56 |
长度: | 18.425 mm | 负载电容(CL): | 50 pF |
逻辑集成电路类型: | REGISTERED BUS TRANSCEIVER | 位数: | 8 |
功能数量: | 2 | 端口数量: | 2 |
端子数量: | 56 | 最高工作温度: | 85 °C |
最低工作温度: | -40 °C | 输出特性: | 3-STATE |
输出极性: | TRUE | 封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY |
封装代码: | SSOP | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | SMALL OUTLINE, SHRINK PITCH | 最大电源电流(ICC): | 19 mA |
传播延迟(tpd): | 4.3 ns | 认证状态: | Not Qualified |
座面最大高度: | 2.8 mm | 最大供电电压 (Vsup): | 5.5 V |
最小供电电压 (Vsup): | 4.5 V | 标称供电电压 (Vsup): | 5 V |
表面贴装: | YES | 技术: | BICMOS |
温度等级: | INDUSTRIAL | 端子形式: | GULL WING |
端子节距: | 0.635 mm | 端子位置: | DUAL |
宽度: | 7.5 mm | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
74ABT18245ADGGRE4 | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS | |
74ABT18245ADGGRG4 | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS | |
74ABT18640DGGRE4 | TI |
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IC ABT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, INVERTED OUTPUT, PDSO56, GREEN, PLAST | |
74ABT20 | NXP |
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Dual 4-input NAND gate | |
74ABT20D | NXP |
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Dual 4-input NAND gate | |
74ABT20DB | NXP |
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Dual 4-input NAND gate | |
74ABT20DB,112 | NXP |
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74ABT20 - Dual 4-input NAND gate SSOP1 14-Pin | |
74ABT20DB-T | ETC |
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Dual 4-input NAND Gate | |
74ABT20D-T | ETC |
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Dual 4-input NAND Gate | |
74ABT20N | NXP |
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Dual 4-input NAND gate |