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Datasheet > 逻辑 > 总线驱动器/收发器> 5962-9458601QXA
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5962-9458601QXA

更新时间： 2024-02-07 19:19:13
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德州仪器 - TI 总线驱动器总线收发器逻辑集成电路测试信息通信管理
页数 文件大小 规格书
32页 537K
描述
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND RESISTERS

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5962-9458601QXA 技术参数

生命周期：Active零件包装代码：DIP
包装说明：CERAMIC, DIP-28针数：28
Reach Compliance Code：compliantHTS代码：8542.39.00.01
风险等级：5.48Is Samacsys：N
计数方向：BIDIRECTIONAL系列：ABT
JESD-30 代码：R-GDIP-T28长度：36.83 mm
逻辑集成电路类型：BOUNDARY SCAN REG BUS TRANSCEIVER最大I（ol）：0.048 A
位数：1功能数量：8
端口数量：2端子数量：28
最高工作温度：125 °C最低工作温度：-55 °C
输出特性：3-STATE输出极性：TRUE
封装主体材料：CERAMIC, GLASS-SEALED封装代码：DIP
封装形状：RECTANGULAR封装形式：IN-LINE
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED最大电源电流（ICC）：38 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup：6.7 ns传播延迟（tpd）：6.7 ns
认证状态：Qualified筛选级别：MIL-PRF-38535 Class Q
座面最大高度：5.08 mm最大供电电压 (Vsup)：5.5 V
最小供电电压 (Vsup)：4.5 V标称供电电压 (Vsup)：5 V
表面贴装：NO技术：BICMOS
温度等级：MILITARY端子形式：THROUGH-HOLE
端子节距：2.54 mm端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED翻译：N/A
触发器类型：POSITIVE EDGE宽度：7.62 mm
Base Number Matches：1

5962-9458601QXA 数据手册

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SCBS123F − AUGUST 1992 − REVISED APRIL 2004  
SN54ABT8646 . . . JT PACKAGE  
SN74ABT8646 . . . DL OR DW PACKAGE  
(TOP VIEW)  
D
D
Members of the Texas Instruments  
SCOPE Family of Testability Products  
Compatible With the IEEE Standard  
1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and  
Boundary-Scan Architecture  
1
28  
27  
26  
25  
24  
23  
22  
21  
20  
19  
18  
17  
16  
15  
CLKAB  
SAB  
DIR  
A1  
A2  
A3  
GND  
A4  
A5  
CLKBA  
SBA  
OE  
2
3
D
D
Functionally Equivalent to ’F646 and  
’ABT646 in the Normal-Function Mode  
4
B1  
B2  
B3  
B4  
5
SCOPE Instruction Set  
6
− IEEE Standard 1149.1-1990 Required  
Instructions, Optional INTEST, CLAMP,  
and HIGHZ  
7
8
V
CC  
9
B5  
B6  
B7  
B8  
TDI  
TCK  
− Parallel-Signature Analysis at Inputs  
With Masking Option  
− Pseudorandom Pattern Generation From  
Outputs  
− Sample Inputs/Toggle Outputs  
− Binary Count From Outputs  
− Even-Parity Opcodes  
10  
11  
12  
13  
14  
A6  
A7  
A8  
TDO  
TMS  
D
D
D
Two Boundary-Scan Cells Per I/O for  
Greater Flexibility  
SN54ABT8646 . . . FK PACKAGE  
(TOP VIEW)  
State-of-the-Art EPIC-ΙΙBBiCMOS Design  
Significantly Reduces Power Dissipation  
Package Options Include Plastic  
Small-Outline (DW) and Shrink  
Small-Outline (DL) Packages, Ceramic Chip  
Carriers (FK), and Standard Ceramic DIPs  
(JT)  
4
3
2 1 28 27 26  
5
25  
24  
23  
22  
21  
20  
19  
B7  
B8  
OE  
SBA  
CLKBA  
CLKAB  
SAB  
6
7
TDI  
TCK  
TMS  
TDO  
A8  
8
9
10  
11  
description  
DIR  
A1  
The ’ABT8646 and scan-test devices with octal  
bus transceivers and registers are members of the  
Texas Instruments SCOPEtestability  
12 13 14 15 16 17 18  
integrated-circuit family. This family of devices  
supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary  
scan to facilitate testing of complex circuit-board  
assemblies. Scan access to the test circuitry is  
accomplished via the 4-wire test access port  
(TAP) interface.  
In the normal mode, these devices are functionally equivalent to the ’F646 and ’ABT646 octal bus transceivers  
and registers. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing  
at the device pins or to perform a self-test on the boundary-test cells. Activating the TAP in normal mode does  
not affect the functional operation of the SCOPEoctal bus transceivers and registers.  
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of  
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
SCOPE and EPIC-ΙΙB are trademarks of Texas Instruments.  
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Copyright 2004, Texas Instruments Incorporated  
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POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
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