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| 是否Rohs认证： | 不符合 | 生命周期： | Obsolete |
| 包装说明： | QCCN, LCC20,.35SQ | Reach Compliance Code： | unknown |
| 风险等级： | 5.92 | JESD-30 代码： | S-XQCC-N20 |
| JESD-609代码： | e0 | 逻辑集成电路类型： | NAND GATE |
| 端子数量： | 20 | 最高工作温度： | 125 °C |
| 最低工作温度： | -55 °C | 封装主体材料： | CERAMIC |
| 封装代码： | QCCN | 封装等效代码： | LCC20,.35SQ |
| 封装形状： | SQUARE | 封装形式： | CHIP CARRIER |
| 电源： | 5 V | 认证状态： | Not Qualified |
| 施密特触发器： | NO | 筛选级别： | 38535Q/M;38534H;883B |
| 子类别： | Gates | 标称供电电压 (Vsup)： | 5 V |
| 表面贴装： | YES | 技术： | TTL |
| 温度等级： | MILITARY | 端子面层： | Tin/Lead (Sn/Pb) |
| 端子形式： | NO LEAD | 端子节距： | 1.27 mm |
| 端子位置： | QUAD | Base Number Matches： | 1 |
| 型号 | 品牌 | 描述 | 获取价格 | 数据表 |
| 54F20MW8 | NSC | IC F/FAST SERIES, DUAL 4-INPUT NAND GATE, UUC12, DIE, Gate |
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| 54F20SDM | FAIRCHILD | NAND Gate, F/FAST Series, 2-Func, 4-Input, TTL, CDIP14, SLIM, CERAMIC, DIP-14 |
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| 54F211DM | FAIRCHILD | Standard SRAM, 16X9, 28ns, CMOS, CDIP20, CERAMIC, DIP-20 |
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| 54F211L1MQB | FAIRCHILD | Standard SRAM, 16X9, 28ns, CMOS, CQCC20, CERAMIC, LCC-20 |
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| 54F211SDM | FAIRCHILD | Standard SRAM, 16X9, 28ns, CMOS, CDIP20, SLIM, CERAMIC, DIP-20 |
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| 54F211SDMQB | FAIRCHILD | Standard SRAM, 16X9, 28ns, CMOS, CDIP20, SLIM, CERAMIC, DIP-20 |
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