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2SA1429-Y

更新时间： 2024-02-23 12:37:40

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东芝 - TOSHIBA		开关晶体管
页数	文件大小	规格书
5页	167K
描述
TRANSISTOR 2000 mA, 80 V, PNP, Si, SMALL SIGNAL TRANSISTOR, 2-7D101A, 3 PIN, BIP General Purpose Small Signal

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技术参数
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2SA1429-Y 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Obsolete
包装说明：	IN-LINE, R-PSIP-T3	针数：	3
Reach Compliance Code：	unknown	ECCN代码：	EAR99
HTS代码：	8541.29.00.75	风险等级：	5.79
最大集电极电流 (IC)：	2 A	集电极-发射极最大电压：	80 V
配置：	SINGLE	最小直流电流增益 (hFE)：	120
JESD-30 代码：	R-PSIP-T3	元件数量：	1
端子数量：	3	最高工作温度：	150 °C
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	IN-LINE	峰值回流温度（摄氏度）：	NOT SPECIFIED
极性/信道类型：	PNP	最大功率耗散 (Abs)：	1 W
认证状态：	Not Qualified	子类别：	Other Transistors
表面贴装：	NO	端子形式：	THROUGH-HOLE
端子位置：	SINGLE	处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED
晶体管应用：	SWITCHING	晶体管元件材料：	SILICON
标称过渡频率 (fT)：	80 MHz	VCEsat-Max：	0.5 V
Base Number Matches：	1

2SA1429-Y 数据手册

2SA1429

TOSHIBA Transistor Silicon PNP Epitaxial Type (PCT Process)

2SA1429

Power Amplifier Applications

Power Switching Applications

Unit: mm

•

Low collector saturation voltage: V

= −0.5 V (max) (I = −1 A)

CE (sat) C

High-speed switching: t

= 1.0 μs (typ.)

stg

Complementary to 2SC3669.

Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)

Characteristics

Collector-base voltage

Symbol

Rating

Unit

CBO

CEO

EBO

−80

Collector-emitter voltage

Emitter-base voltage

Collector current

−5

−2

Base current

−1

Collector power dissipation

Junction temperature

Storage temperature range

1000

150

°C

JEDEC

JEITA

―

stg

−55 to 150

TOSHIBA

2-7D101A

Note1: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high

temperature/current/voltage and the significant change in

Weight: 0.2 g (typ.)

temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even if the operating

conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum ratings.

Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook

(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test

report and estimated failure rate, etc).

2010-03-09

12 3 4 5

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